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KIST 한국과학기술연구원 Korea Institute of Science and Technology

특성분석센터

원내 원외 분석기술지원
  • 다양한 분석시료에 대하여 첨단 분석 장비를 이용하여 유해물질 분석(유기·무기 화학분석), 초미세 표면 분석 및 프로티움 분석과 관련된 원내외 분석지원 수행
  • 첨단 전자현미경을 이용한 나노재료의 구조분석 지원
첨단분석 장비를 이용한
분석기술 개발 연구
  • 첨단 화학, 물리, 재료 및 생물소재의 최신분석기법 개발 및 분석방법의 표준화
특성분석 평가기술 교육
  • 원내의 연구원들에 대한 대형장비 활용 기술 교육
  • 원외의 산업체 및 대학 연구원들에 대한 분석 장비 기술 교육
특성분석 평가 연구사업
  • 유해물질 분석 분야, 초미세 표면 분석 분야, 프로티움 분석 분야와 관련된 국책 연구사업, 산업체 용역사업
대외지원업무
  • 대외수탁시험
  • total solution(analysis)제공
  • 신분석 기술개발
  • 산학연 애로 사항 해결
  • 특수물질 분석 서비스
  • 분석요원 기술교육(무기,유기,표면분석)
전자현미경 팀
TEM을 이용한 나노구조 분석
STEM/EELS를 이용한 원자 구조 및 결합 구조 분석
생체모사재료 나노구조 분석
고분해능 영상 격자변형량 측정
Cryo FIB를 이용한 생체 재료 분석
FIB를 이용한 나노선의 인장 및 압축 시험
FIB내에서 나노재료의 전기적 물성평가
FIB를 이용한 3차원 구조 재구성 및 정량 분석
Electron tomography를 통한 생체 시료의 3차 구조분석
이온빔 가속기 & 질량분석 팀
깊이 방향 미량 경원소 성분 이온빔 절대 정량 분석: RBS/ERD/NRA
Sub-micro ion beam 분석: micro-pixe, STIM
Channeling을 이용한 박막 구조 분석: RBS-Channeling, ERD-Channeling
상태 분포 분석 : fsLA
초미량 고분리능 정량 분석 : ICP-HRMS, ICP-QMS
HRMS를 이용한 분자구조분석 및 대사체분석
나노물질의 분리검출 및 정량법 분석
Radioisotope 분석을 통한 방사성물질 오염지도 작성
이온빔을 이용한 물질개질: Smart-cut, nanocrystal, Ion beam isolation, Ion beam lithography 등.
AMS: 연대 측정 및 초극미량 추적자 분석, 바이오, 환경, 지질학, 고고학 등
구조표면 팀
유/무기 재료의 결합구조 및 결정구조 규명
미지시료의 구성성분 분석
표면 원소의 정성 및 정량 분석
깊이방향 원소 및 깊이분포 분석
표면 원소의 화학결합상태 및 미세결합구조 분석
NMR 팀
유기/무기/고분자 및 천연 화합물 분자 구조 분석
단백질 및 핵산 (DNA/RNA)의 구조 및 dynamics 분석
자료관리 담당
특성분석센터
연락처
02-958-6971
e-mail
091069@kist.re.kr 이메일
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